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當(dāng)前位置：首頁(yè) > 新聞中心超聲電聲法Zeta電位儀是根據(jù)多普勒效應(yīng)設(shè)計(jì)的
超聲電聲法Zeta電位儀是通過(guò)超聲電聲法測(cè)量流體中顆粒電荷特性的儀器。其原理基于顆粒在電場(chǎng)中的運(yùn)動(dòng)行為和聲學(xué)效應(yīng)。需要將待測(cè)流體樣品注入到一個(gè)透明的測(cè)量池中，并施加一個(gè)外部電場(chǎng)。在電場(chǎng)中，帶電的顆粒會(huì)受到電場(chǎng)力的作用，產(chǎn)生向陽(yáng)極或陰極方向的移動(dòng)。當(dāng)顆粒在電場(chǎng)力和液體阻力之間達(dá)到平衡時(shí)，顆粒的速度變?yōu)楹愣ㄖ?，此時(shí)稱(chēng)為顆粒的移動(dòng)速度。在測(cè)量池中，超聲電聲法Zeta電位儀通過(guò)超聲發(fā)射器發(fā)出一束聲波，這個(gè)聲波向測(cè)量池中的液體中傳播。當(dāng)聲波遇到移動(dòng)的顆粒時(shí)，顆粒會(huì)反射一部分聲波。Zet...顯微計(jì)數(shù)法不溶性微粒儀的常見(jiàn)問(wèn)題及解決方法
顯微計(jì)數(shù)法不溶性微粒儀利用顯微計(jì)數(shù)法原理，通過(guò)光學(xué)系統(tǒng)、顯微鏡和圖像處理等技術(shù)，能夠高精度、高靈敏度地自動(dòng)測(cè)量和分析不溶性微粒的數(shù)量和尺寸分布。顯微計(jì)數(shù)法不溶性微粒儀的常見(jiàn)問(wèn)題及解決方法：1.儀器無(wú)法開(kāi)機(jī)或開(kāi)機(jī)后無(wú)顯示：檢查電源是否連接正常，確認(rèn)電源開(kāi)關(guān)是否打開(kāi)，若問(wèn)題依然存在，可能是儀器內(nèi)部電路故障，需聯(lián)系售后維修。2.儀器運(yùn)行時(shí)出現(xiàn)錯(cuò)誤提示或報(bào)警：根據(jù)錯(cuò)誤提示信息進(jìn)行排查，例如檢查樣品是否放置正確，清理儀器內(nèi)部可能被堵塞的部件，確認(rèn)儀器是否處于正常工作狀態(tài)。3.儀器不穩(wěn)定...顯微計(jì)數(shù)法不溶性微粒儀可以適用于各種不同類(lèi)型的微粒分析
顯微計(jì)數(shù)法不溶性微粒儀的優(yōu)點(diǎn)包括高精度、高靈敏度、快速測(cè)量和自動(dòng)化分析，并可以適用于各種不同類(lèi)型的微粒分析。例如，通過(guò)設(shè)置合適的成像參數(shù)和圖像處理算法，不同粒徑和形狀的微?？梢员粶?zhǔn)確地分析和計(jì)數(shù)，同時(shí)還能提供微粒尺寸分布和形狀信息。在環(huán)境監(jiān)測(cè)、醫(yī)藥領(lǐng)域和材料科學(xué)等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。例如，在環(huán)境監(jiān)測(cè)中，可以用于測(cè)量大氣中的顆粒物濃度和分布，從而評(píng)估空氣質(zhì)量和污染程度。在醫(yī)藥領(lǐng)域，可以用于測(cè)量藥物微粒的尺寸和分布，從而評(píng)估藥物的溶解度和生物利用度。在材料科學(xué)中，可以用于研究和控...顯微鏡不溶性微粒分析儀是環(huán)境監(jiān)測(cè)的重要工具
顯微鏡不溶性微粒分析儀是用于對(duì)不溶性微粒進(jìn)行分析和表征的儀器。它結(jié)合了顯微鏡和顆粒分析技術(shù)，能夠高效地檢測(cè)和測(cè)量微粒的形態(tài)、大小、分布和化學(xué)成分等特征，為材料科學(xué)、環(huán)境監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域的研究提供了重要的工具。1.1準(zhǔn)確光學(xué)顯微鏡原理光學(xué)顯微鏡借助透射和反射光學(xué)系統(tǒng)，顯微鏡能夠放大樣品并使其成像。通過(guò)調(diào)節(jié)物鏡和目鏡的組合，可以將樣品放大至更高分辨率，從而觀察微粒的細(xì)微結(jié)構(gòu)。1.2準(zhǔn)確顆粒分析原理顆粒分析原理主要基于顆粒物理學(xué)和統(tǒng)計(jì)學(xué)方法。通過(guò)對(duì)微粒的大小、形狀、濃度和分布進(jìn)行量化和分...高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀使用中的常見(jiàn)問(wèn)題解答
高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀的特點(diǎn)是能夠在高濃度懸浮液中進(jìn)行測(cè)量。傳統(tǒng)的納米粒度和Zeta電位分析儀在測(cè)量高濃度樣品時(shí)可能會(huì)出現(xiàn)困難，因?yàn)楦邼舛葮悠窌?huì)引起散射效應(yīng)的增加和顆粒沉降的影響。針對(duì)這個(gè)問(wèn)題，使用了適當(dāng)?shù)墓饴吩O(shè)計(jì)、進(jìn)樣器和測(cè)量參數(shù)優(yōu)化等技術(shù)，以實(shí)現(xiàn)在高濃度懸浮液中進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量。用于測(cè)量和分析納米粒子的粒度分布和Zeta電位。該儀器具有測(cè)量高濃度懸浮液樣品的能力，并提供了有效的手段來(lái)評(píng)估粒子的表面性質(zhì)和相互作用力。這在納米材料研究、醫(yī)藥領(lǐng)域以及環(huán)境監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域具有重...高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀可以廣泛應(yīng)用于以下領(lǐng)域
高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀是用于粒子表征和分散性評(píng)價(jià)的儀器。它可以用于測(cè)量和分析納米粒子的粒度分布、濁度、流變性質(zhì)以及粒子間的相互作用。儀器通過(guò)激光散射技術(shù)來(lái)測(cè)量粒子的粒度分布。激光束照射在樣品中的納米顆粒上，被散射光通過(guò)光學(xué)系統(tǒng)傳導(dǎo)到探測(cè)器上。根據(jù)光散射的強(qiáng)度和角度分布，可以計(jì)算出顆粒的粒徑大小。激光散射方法有兩種，一種是動(dòng)態(tài)光散射(DLS)方法，另一種是靜態(tài)光散射(SLS)方法。DLS方法適用于測(cè)量較小的納米顆粒，而SLS方法適用于較大尺寸的粒子。接下來(lái)，讓我們來(lái)...全自動(dòng)注射劑可見(jiàn)異物分析儀的維護(hù)保養(yǎng)方法
全自動(dòng)注射劑可見(jiàn)異物分析儀通過(guò)光學(xué)成像、圖像處理和物質(zhì)識(shí)別等幾個(gè)步驟對(duì)藥物注射液中的異物進(jìn)行檢測(cè)。通過(guò)對(duì)原始圖像進(jìn)行處理和識(shí)別，可以有效地提高異物檢測(cè)的準(zhǔn)確性和可靠性，從而為保障注射劑的質(zhì)量和安全性提供重要的技術(shù)支持。全自動(dòng)注射劑可見(jiàn)異物分析儀的操作使用步驟：1.測(cè)試儀放置在干燥、潔凈的工作臺(tái)上，并確保設(shè)備連接好電源。2.打開(kāi)儀器的電源開(kāi)關(guān)，待儀器啟動(dòng)后，進(jìn)入待機(jī)狀態(tài)。3.準(zhǔn)備待測(cè)試的全自動(dòng)注射劑樣品，按照儀器說(shuō)明書(shū)中的要求，將樣品引進(jìn)儀器。4.設(shè)置測(cè)試參數(shù)，如測(cè)試時(shí)間、測(cè)試...
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